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使用X射线荧光光谱仪时避免影响测量的方法

发布时间:2019-06-13 10:11:19         点击:952

       现场测量时,总会有一些原因造成误差,影响测量的效果,但这些因素其实可以避免,下面我们来谈谈怎样正确使用X射线荧光光谱仪,避免测量误差。

       在现场测量中,岩石表面凹凸不平,岩石的结构也不同,不均匀,X射线荧光光谱仪的探头放置在上面时,同位素源于岩矿表面距离往往不能与标准测量时完全相同。这种距离的变化只要毫米数量级就会引起较大的误差,特别在测量轻元素,中等元素时(如P,S,Ti,Cu,Fe,Zn,Cr,Mo等),因此,进行现场测量时要选择岩石露头比较平坦的新鲜表面,对于极不平坦的岩石露头,应该人工加以整平,力求做到与标准测量条件相同。

 X射线荧光光谱仪测量不平整岩石

X射线荧光光谱仪测量不平整岩石

       在测量方法上,应在原来位置多次重新安放探头,并相应测出数据,取其平均值,可以达到与制作标准曲线时的测量条件基本一致。因为这种因岩石表面不平整产生的误差属于偶然误差范畴,只要有足够多次的变位测量,其偶然误差的平均值将趋于零。

 

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